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半導體激光器測試方法與測試標準

2025-06-17 16:36:47
閱讀:

半導體激光器的原理

 

半導體激光器(Laser Diode, LD)是一種基于半導體材料的激光器,其工作原理依賴于受激輻射(Stimulated Emission)和PN結載流子注入。當電流通過半導體PN結時,電子與空穴復合,釋放光子。這些光子在諧振腔(通常由解理面或布拉格反射鏡構成)內來回反射,形成光放大,最終輸出高相干性、高方向性的激光。

 

半導體激光器的核心結構包括:

有源區(Active Region):電子-空穴復合發光的區域,通常由量子阱(Quantum Well)結構提高效率。

諧振腔(Optical Cavity):提供光反饋,增強受激輻射。

電極(Electrodes):提供載流子注入。

 

半導體激光器具有體積小、效率高、調制速度快等特點,廣泛應用于通信、醫療、工業加工、消費電子等領域。


半導體激光器測試方法與測試標準(圖1)

 

半導體激光器的特點

 

半導體激光器相比其他激光器(如固體激光器、氣體激光器)具有以下優勢:

高效率:電光轉換效率可達50%以上,遠高于其他激光器。

小型化:體積小,易于集成到各類設備中。

波長范圍廣:覆蓋紫外(UV)到遠紅外(IR),如405nm(藍紫光)、650nm(紅光)、808nm(近紅外)、1550nm(通信波段)。

調制速度快:適用于高速通信(如光纖通信)。

壽命長:優質半導體激光器壽命可達數萬小時。

但半導體激光器也存在一些局限性,如光束質量較差(通常為橢圓光斑)、溫度敏感性高(需溫控系統穩定輸出)。

 

半導體激光器性能參數

 

半導體激光器的性能參數直接影響其應用效果,主要參數包括:

 

(1)光電特性參數

閾值電流(I<sub>th</sub>):激光器開始產生激光的最小電流。

輸出功率(P<sub>out</sub>):激光器的光功率,通常以mW或W表示。

斜率效率(Slope Efficiency):單位電流變化對應的輸出功率變化(W/A)。

工作電壓(V<sub>op</sub>):激光器正常工作時的電壓。

 

(2)光譜特性參數

中心波長(λ<sub>c</sub>):激光器的主要發光波長。

光譜寬度(Δλ):激光譜線的半高寬(FWHM),反映單色性。

邊模抑制比(SMSR):主模與次模的功率比,衡量激光器的模式穩定性。

 

(3)光束質量參數

發散角(θ<sub>∥</sub>和θ<sub>⊥</sub>):平行和垂直于結平面的光束發散角。

M2因子(光束質量因子):衡量光束接近理想高斯光束的程度。

 

(4)可靠性參數

壽命(Lifetime):在額定工作條件下,激光器輸出功率降至初始值70%的時間。

溫度特性:包括熱阻(R<sub>th</sub>)和波長隨溫度漂移(dλ/dT)。

 

半導體激光器性能參數測試標準

 

半導體激光器的測試需遵循國際和行業標準,以確保數據準確性和可比性。主要標準包括:

IEC 60825-1:激光產品安全等級分類標準。

IEC 60747-5:半導體激光器電光特性測試標準。

GB/T 31359:中國國家標準,規定半導體激光器性能測試方法。

ISO 11146:激光光束參數(如M2因子)測量標準。

 

半導體激光器性能參數測試方法

 

(1)光電特性測試

L-I-V曲線測試:測量激光器的光功率(L)-電流(I)-電壓(V)關系,確定閾值電流和斜率效率。

功率穩定性測試:在恒定電流下,監測輸出功率隨時間的變化。

 

(2)光譜特性測試

光譜分析儀(OSA)測試:測量中心波長、光譜寬度和邊模抑制比。

波長溫度依賴性測試:在不同溫度下測量波長漂移(dλ/dT)。

 

(3)光束質量測試

光束輪廓分析:使用CCD相機或掃描狹縫法測量光斑形狀和發散角。

M2因子測量:通過移動透鏡和光束分析儀計算M2值。

 

(4)可靠性測試

老化測試:在高溫、高電流條件下加速老化,評估壽命。

ESD測試:評估激光器抗靜電放電能力。

 

半導體激光器性能參數測試的意義

 

確保產品質量:通過測試篩選不合格產品,提高良率。

優化設計:測試數據可反饋至研發,改進激光器結構。

符合法規要求:滿足激光安全認證(如FDA、IEC 60825)。

延長使用壽命:通過可靠性測試預測激光器壽命,避免早期失效。

 

如何提升半導體激光器性能?

 

優化量子阱結構:提高載流子限制能力,增強發光效率。

改進散熱設計:采用高熱導率材料(如金剛石散熱片)降低結溫。

提高腔面鍍膜質量:減少光學損耗,提高輸出功率。

優化驅動電路:采用恒流源和溫控電路(TEC)穩定輸出。

 

深圳中為檢驗:專業半導體激光器測試與認證機構

 

深圳市中為檢驗技術有限公司是華南地區領先的激光產品檢測和認證機構,提供:

半導體激光器性能測試(L-I-V曲線、光譜分析、光束質量等)。

激光安全等級認證(IEC 60825、FDA 21 CFR 1040.10)。

可靠性測試(老化、ESD、高低溫循環)。

深圳中為檢驗擁有CNAS、CMA資質,檢測報告具有國際認可度,助力企業提升產品競爭力。

 

半導體激光器的測試是確保其性能、可靠性和安全性的關鍵環節。通過科學的測試方法和嚴格的標準,可以優化激光器設計,提高產品市場競爭力。深圳中為檢驗憑借專業的技術團隊和先進的檢測設備,為半導體激光器企業提供全面、可靠的測試服務,推動行業高質量發展。

 

如果您有激光器需要做檢測和認證,歡迎來電咨詢我們的專業技術團隊!


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